弘測

φ150mm*30mm標準光學平面平晶（1級/2級、單/雙平面）

 

 

 

 

 產品簡介   Product introduction

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光學測量平面是表面粗糙度數值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產生光波干涉條紋。平晶是具有一個（或兩個）光學測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)；一般用K9光學玻璃或石英玻璃制造。

光學平晶是由玻璃或水晶制成，用來檢查光整鏡面的平面度。平面平晶的一個面是非常光整的鏡面，把它與加工鏡面相接觸，就會產生干涉條紋，通過對此干涉條文的測量，可以求得工件被加工鏡面的平面度。適用于塊規(guī)、千分尺、塞尺等量具的測量面的平面度檢測。

常用的平晶有平面平晶、長平晶和平行平晶。

長平晶主要用于以等傾干涉法檢定研磨平尺的平面度。

平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。圖1a為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。

圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學測量平面的平面度誤差為：1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。

平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差（圖1b）。與平面平晶相似，把它與加工鏡面相接觸，就會產生干涉條紋，通過對此干涉條文的測量，可以求得工件被加工鏡面的平面度和平行度。平行平晶的兩面均為高精度的平整鏡面，且相互間的平行度很高，適用于檢測各種計量器具的測量工作面的平面度及平行度。

 

  

 應用范圍   Applications

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平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。

平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差。

適用于光學加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。

 

 

 測量方法   Working principle

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平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測量平面度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法,也稱技術光波干涉法。測量時,把平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ，以單色光源照射時會產生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關。如入射光線垂直于被測表面，且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現(xiàn)彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。

其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)；

λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間距。

 

  

 技術指標   Technical indicators

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1、外形尺寸：

類型	直徑*厚度（mm）		精度	備注
長平晶	210*40*25
	310*40*25
平行平晶	組I	0-25mm	0.6um	4塊/組
	組II	25-50mm	0.6um	4塊/組
	組III	50-75mm	0.8um	4塊/組
	組IV	75-100mm	1.0um	4塊/組
	●  平行平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。 ●  平行平晶具有高精度的平面性和平行性。 ●  平行平晶用于干涉法測量檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)、千分表和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。 ●  測量準確度：按《JJG28-2019平晶》標準執(zhí)行； ●  平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。  ●  測量面上平面度偏差：<0.1μm； ●  平面度局部偏差： 　  >0.03μm； ●  檢驗標準：GB903無色光學玻璃 ●  測量面平行度誤差： 組Ⅰ系列（0-25mm）允許誤差值：0.6μm； 組Ⅱ系列（25-50mm）允許誤差值：0.6μm； 組Ⅲ系列（50-75mm）允許誤差值：0.8μm； 組Ⅳ系列（75-100mm）允許誤差值：1.0μm；  ●  平晶必須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內進行等溫，等溫時間不少于8h。
平面平晶	Φ30*15		1級或2級	單平面平晶/雙平面平晶
	Φ45*15
	Φ60*20
	Φ80*20
	Φ100*25
	Φ150*30
	Φ200*40
	Φ250*45
	Φ300*45
	Φ400*45
	Φ500*50
	Φ600*50
	1、平面平晶制成兩種精度： 1級 和 2級； 2、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為： 直徑30~60mm 1級平晶 0.03μm； 直徑30~60mm 2級平晶 0.1 μm； 直徑80~150mm 1級平晶 0.05μm； 直徑80~150mm 2級平晶 0.1 μm； 直徑200~300mm 1級平晶 0.06μm； 直徑200~300mm 2級平晶 0.1μm； 直徑300~600mm 1級平晶 0.08μm； 直徑300~600mm 2級平晶 0.1μm； （直徑300mm~600mm的平晶 平面度誤差均可以做到0.03μm 達到國際優(yōu)秀水平 ） 更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據國家標準。 3、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm 4、平面平晶測量工作應在室溫2 0℃±3℃條件下保持數小時后進行。 5、平行度誤差：Ⅰ級 0.6μm 6、平晶的材料：A級 光學K9玻璃；檢驗標準 （GB 903-1987 無色光學玻璃） 7、平晶必須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內進行等溫，等溫時間不少于8h 注：可以定做正方形、長方形、環(huán)形平面平晶，可以定做二等平面平晶，標準樣板?？梢詭С鰣蟾?，可以定做材質為石英平面平晶。

附：平行平晶尺寸表：

組號	0－25	25－50	50－75	75－100
1	15.00，15.12 15.25，15.39	40.00，40.12 40.25，40.37	65.00，65.12 65.25，65.37	90.00，90.12 90.25，90.37
2	15.12，15.25 15.37，15.50	40.12，40.25 40.37，40.50	65.12，65.25 65.37，65.50	90.12，90.25 90.37，90.50
3	15.25，15.37 15.50，15.62	40.25，40.37 40.50，40.62	65.25，65.37 65.50，65.62	90.25，90.37 90.50，90.62
4	15.37，15.50 15.62，15.75	40.37，40.50 40.62，40.75	65.37，65.50 65.62，65.75	90.37，90.50 90.62，90.75
5	15.50，15.62 15.75，15.87	40.50，40.62 40.75，40.87	65.50，65.62 65.75，65.87	90.50，90.62 90.75，90.87
6	15.62，15.75 15.87，16.00	40.62，40.75 40.87，41.00	65.62，65.75 65.87，66.00	90.62，90.75 90.87，91.00

 

 

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鈉光燈-高頻鈉光燈-平晶納光燈箱

   

一、用途：

高精度鈉光燈箱是光學儀器理想的單色光源。主要和平面平晶配套，用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測量儀 器及測量工具量面的研合性和平面度適用于光學加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。

二、主要技術特點： 

1、高精度鈉光燈箱是由特種的抗鈉玻璃吹成管膽，管內充有金屬鈉，外面封接玻璃外殼而成。點燃后能輻射比較強5890A 5896A鈉譜線。具有適應范圍廣、使用壽命長、不受環(huán)境溫度影響、燈光穩(wěn)定無頻閃的特點，可防止低頻燈光源對人眼的傷害。 

2、發(fā)光管它的發(fā)光效率基本不受環(huán)境溫度的影響。其輻射光譜純正、穩(wěn)定、無雜散光。其發(fā)光波長透霧性強，在低功率電光源產品中光效最高，是光學儀器中單色光源最理想的選擇。 

3、燈具采用高品質防火、阻燃、環(huán)保進口塑料，緊固件采用材料增強安全性，抗振性。 

4、根據光源的特性，燈具反射器采用抗紫外線噴塑增強表面抗腐蝕性。全密封防塵、防水、防眩光設計。 

5、燈具檢測平臺采用特殊阻尼材料，國際領先的表面噴涂工藝精工制作，增強對被測工件的保護和保證檢測的安全穩(wěn)定。 

6、檢測平晶范圍直徑300mm（范圍不夠可以定做更大）

7、工作電壓：15+5 功率：20 W 工作電流：1-1.3A